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氮化鎵和碳化硅器件的開關(guān)損耗測試設(shè)備

更新時間:2025-06-25      點擊次數(shù):423

       傳統(tǒng)的半導(dǎo)體I-V特性測量方案通常是復(fù)雜且成本昂貴的,需要多種儀器配合完成測試,如電壓/電流源,脈沖發(fā)生器,高精密電壓/電流表等。不僅占用有限的測試臺架空間,同時工程師需要編程實現(xiàn)多臺設(shè)備的控制及同步,才能確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確度。源測量單元為工程師提供了一種即經(jīng)濟(jì)又高效的解決方案。它集六種設(shè)備功能于一體,將不同輸出和測量能力整合到緊湊的2U尺寸中,可輸出電壓或電流以及同時測量電壓和/或電流。它兼具以下儀器的功能:四象限電壓源、電流源、61/2數(shù)字萬用表、脈沖發(fā)生器、電池模擬器以及電子負(fù)載。

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       脈沖模式下,源測量單元支持±10.5A的脈沖電流輸出,脈寬可低至50μs,能夠精準(zhǔn)模擬功率器件的瞬態(tài)工況,如GaN(氮化鎵)、SiC(碳化硅)器件的開關(guān)損耗測試等,為功率半導(dǎo)體器件的研發(fā)和測試提供了強(qiáng)有力的支持。

 

       具體步驟

1、?連接源表和示波器?:將源表連接到功率器件的兩端,同時使用示波器觀察電壓和電流波形。確保使用帶屏蔽的短引線探頭以避免外部噪聲干擾。?

2、?波形分割?:將導(dǎo)通和關(guān)斷過程中的波形分割成若干段,每段可以通過簡單的三角形和矩形分段求和的方法來計算損耗。

3、?數(shù)據(jù)處理?:通過公式計算每段的損耗,然后將各段損耗相加得到總損耗。例如,導(dǎo)通損耗可以通過公式P=V×I×t 計算,其中 V 是電壓,I 是電流,t 是時間。


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